반도체

더 스마트한 테스트 전략: 디바이스가 점점 더 스마트해지면서 반도체 테스트 솔루션도 점점 더 스마트해집니다.
NI가 실험실에서 생산 현장까지 확장 가능한 비용 효율적인 소프트웨어와 솔루션을 어떻게 제공하는지 알아보십시오.

반도체 테스트 시스템(STS)

  • NI Semiconductor Test System

  • STS는 생산 공정에 바로 투입할 수 있는 ATE 솔루션으로, RF, 혼합 신호 및 MEMS 반도체 디바이스의 개발 기간과 테스트 비용을 낮춰드립니다.

    보다 스마트한 반도체 생산 테스트 시스템

    처리량과 비용에 최적화된 STS는 RF, 혼합 신호 및 MEMS 반도체 디바이스를 위한 생산 공정에 바로 투입할 수 있는 ATE 솔루션입니다. STS는 매니퓰레이터, 핸들러 및 웨이퍼 프로버에 대한 지원을 통해 생산 테스트 셀에 사용할 수 있으며, 표준 스프링 핀 레이아웃을 통해 고도로 전송 가능한 테스트 프로그램과 로드 보드를 지원합니다. STS는 테스트 프로그램을 신속하고 효율적으로 개발, 디버깅, 배포할 수 있도록 통합된 소프트웨어 도구 세트를 제공합니다. 솔루션을 완성하기 위해 NI는 포괄적인 엔지니어링 서비스, 육성 서비스, 교육 및 지원을 제공합니다.

솔루션 장점

  • 포괄적인 RF 포트폴리오, 디지털 및 DC 계측 장비 — 테스트 프로그램과 로드 보드의 호환성을 유지하면서도 STS를 맞춤형으로 설정하고 계측 리소스를 추가하여 기존 테스트를 업그레이드할 수 있습니다.
  • 통합된 소프트웨어 환경 — STS 소프트웨어는 핀 맵핑, 테스트 리미트 가져오기/내보내기, 비닝 (binning) 및 STDF 리포트 등을 비롯하여 멀티사이트 테스트 프로그램을 개발, 디버그, 배포하는 데 필요한 도구를 제공합니다.
  • 내장된 테스트 코드 — 드래그 앤 드롭 방식의 소프트웨어 템플릿을 활용하여 연속성 검사, 누설 테스트, 디지털 패턴 버스트 또는 5G NR과 같은 최신 무선 통신 표준의 RF 웨이브폼 생성 및 수집처럼 일반적인 반도체 테스트를 손쉽게 구현할 수 있습니다.
  • 테스트 셀 통합 — 표준형 도킹 및 인터페이스 인프라를 통해서 매니퓰레이터, 패키지 테스트용 디바이스 핸들러, 웨이퍼 테스트용 웨이퍼 프로버와의 원활한 통합이 가능합니다.
  • 시스템 교정 — 현장에서 시스템 레벨 교정이 가능합니다. 디지털과 DC 리소스의 경우 스프링 프로브 인터페이스까지, RF 리소스는 블라인드 메이트까지 교정이 가능합니다. 벡터 디임베딩 파일을 사용하는 옵션으로 DUT 평면까지도 교정할 수 있습니다.
  • 서비스 및 지원 — 포괄적인 엔지니어링 서비스, 가동 서비스, 교육 및 기술 지원을 통해 신속하게 시스템을 설치하고 운영을 시작할 수 있습니다.


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